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在分析被測濾膜上的殘留物顆粒時(shí)，濾膜上金屬顆粒的表面局部單個(gè)或多個(gè)位置呈現(xiàn)反光，普通明場掃描不能準(zhǔn)確判斷顆粒的大小及數(shù)量。
金屬顆粒:
偏光掃描完 美解決在明場中單個(gè)金屬顆粒表面多個(gè)位置反光造成的數(shù)量統(tǒng)計(jì)不準(zhǔn)確。
清潔度分析儀使用的光源，其出射光經(jīng)過線性偏振后再照射到濾膜表面。通過偏振光物理原理應(yīng)用來識(shí)別、對比顆粒在不同偏振光下的圖片，而后鑒別出金屬和非金屬顆粒。
偏光掃描：2次掃描，過程全自動(dòng)偏光，偏光掃描統(tǒng)計(jì)所有顆粒數(shù)量及測量尺寸，再明場掃描定性顆粒性質(zhì)（金屬or非金屬），減少誤判。
明場掃描：1次掃描，一個(gè)大金屬顆粒被分 解成數(shù)個(gè)金屬顆粒及非金屬顆粒，尺寸和顆粒的數(shù)量。統(tǒng)計(jì)不準(zhǔn)確。
介紹了使用徠卡EM TIC 3X三離子束研磨儀對手機(jī)觸摸屏玻璃進(jìn)行解剖的實(shí)驗(yàn)過程和結(jié)果。
Leica DM2700 M LED照明正置材料顯微鏡。Leica DM2700 M為適用于明場、暗場、微分干涉、偏光以及熒光用途的多功能立式顯微系統(tǒng)。
CCM200C普通型清潔度檢測系統(tǒng)對清洗過濾后得到的濾有殘?jiān)臑V紙，通過顯微鏡法觀察和測定殘?jiān)w粒的大小，與CCM-100C型的清潔度檢測系統(tǒng)的差別在CCM-200C型是智能型，可以通過電腦任何控制平臺(tái)。
徠卡金相顯微鏡主要用于材料分析，金相組織觀察，與同濟(jì)大學(xué)合作的顯微鏡型號(hào)是DM6M為正置式三目鏡，配了徠卡品牌DFC450型的500萬物理像素?cái)z像頭…
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