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在汽車和運輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中，產品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。

徠卡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學顯微術 (目視分析) 和激光誘導擊穿光譜 (LIBS) (化學分析) 相結合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 等其他方法進行比較，在有效清潔度分析中占據著優(yōu)勢。

查找和消除污染源更輕松

對于技術清潔度，目標是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時間和精力識別污染源，因為清潔度分析流程得到了簡化。 

與使用掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 進行分析的不同之處在于: 

> 無需樣品制備；

> 無需將樣品從一個設備傳輸到另一個設備；

> 無需在濾片上重新定位感興趣區(qū)域，也無需進行系統調節(jié)；

> 無需損失等待真空的時間 (分析始終在大氣條件下的空氣中進行) 

“二合一法”解決方案:顆粒成像和構成分析

以下圖 2 所示為使用徠卡 DM6 M LIBS 解決方案對濾片上的顆粒進行可視和化學分析的示例。

圖 2：使用 DM6 M LIBS 二合一解決方案執(zhí)行清潔度分析:

A) 檢測、統計和測量濾片上的顆粒；

B) 如果是金屬顆粒，選擇適當的對比度方法可以看到顆粒的反射光；

C) 激光追蹤 ( 紅色十字準線) 濾片上檢測到的顆粒，以運用 LIBS 進行化學分析； 

D) 來自 LIBS 的元素譜清楚地表明該顆粒由鋁 (Al) 組成。

雙重有效的總體清潔度工作流程

對于整個清潔度工作流程，往往要使用多個供應商提供的多種儀器來執(zhí)行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析，在整個流程中使用來自“單一源”的一種清潔度解決方案更加方便。徠卡公司和 Pall 公司共同努力為汽車和運輸行業(yè)提供了這樣一種獨特而周全的清潔度解決方案。您可在下面的圖 3 中看到使用 Pall 清洗柜和徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案的整體清潔度工作流程。 

整套解決方案的優(yōu)勢在于更容易達到清潔度分析的目標:：

> 測定顆粒導致損壞的潛在可能性；

> 找到并消除對產品性能和使用壽命構成嚴重威脅的污染源。

圖 3：符合 VDA19 且有效的汽車行業(yè)整體清潔度工作流程：

從濾片顆粒提取和保留 （Pall 清洗柜） 到可視和化學分析（徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案）。

目標旨在更快地找到危險顆粒污染源并消除它們。 

 關于徠卡顯微系統Leica Microsystems

徠卡顯微系統是全球顯微科技與分析科學儀器之領導廠商，總部位于德國維茲拉(Wetzlar, Germany)。主要提供顯微結構與納米結構分析領域的研究級顯微鏡等專業(yè)科學儀器。自公司十九世紀成立以來，徠卡以其對光學成像的追求和不斷進取的創(chuàng)新精神始終得到業(yè)界廣泛認可。徠卡在復合顯微鏡、體視顯微鏡、數碼顯微系統、激光共聚焦掃描顯微系統、電子顯微鏡樣品制備和醫(yī)療手術顯微技術等多個顯微光學領域處于全球帶頭地位。

徠卡顯微系統在全球有七大產品研發(fā)與生產基地，在二十多個國家擁有服務支持機構。徠卡在全球一百多個國家設有區(qū)域分公司或銷售分支機構，并建有遍及全球的完善經銷商服務網絡體系。

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