想要得到顯著的測試結(jié)果,要求深刻理解測試方法,以及規(guī)范指引。常規(guī)零件殘留顆粒物測量主要包括以下步驟:
首先要提取污染物,并通過沖洗、壓力噴洗、超聲 波沖洗或擦拭的方法將污染物轉(zhuǎn)移到液體介質(zhì)中。然后,利用真空過濾將粒子留在濾膜上。
零件漂洗后,殘余的油脂和潤滑脂通過旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀選擇性地使液體介質(zhì)(如石油醚)蒸發(fā)并與之分離,然后單獨稱重。稱量剩余油污重量以量化判斷零件是否達到無油表面的質(zhì)量要求。
至 簡單評估粒子數(shù)量的方法就是稱量濾膜過濾前后的重量,然后計算重量差,其重量差就是粒子的重量。對于至基本的清潔度測試,這種稱量的結(jié)果就足夠了
高 端光學(xué)粒子掃描儀(顆粒清潔度儀)能夠在幾分鐘內(nèi),掃描得到濾膜上的粒子計數(shù)以及尺寸大小。因為粒子掃描儀的價 格經(jīng)濟,并可以快速地讀出數(shù)據(jù),所以該儀器可用于工廠的日常生產(chǎn)控制過程中.
在清潔度測試中,現(xiàn)在更趨向測量污染物顆粒的空間大小。為了測量粒子的尺寸大小和體積,必 須準備X-射線顯微斷層攝影系統(tǒng)。
粒度分析的至終方案,是通過自動電子顯微鏡和EDS(能譜儀)測量其大小和化學(xué)類型。其中包括粒子數(shù)量和大小,以及確認每個粒子的化學(xué)組成。
介紹了使用徠卡EM TIC 3X三離子束研磨儀對手機觸摸屏玻璃進行解剖的實驗過程和結(jié)果。
Leica DM2700 M LED照明正置材料顯微鏡。Leica DM2700 M為適用于明場、暗場、微分干涉、偏光以及熒光用途的多功能立式顯微系統(tǒng)。
CCM200C普通型清潔度檢測系統(tǒng)對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙,通過顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小,與CCM-100C型的清潔度檢測系統(tǒng)的差別在CCM-200C型是智能型,可以通過電腦任何控制平臺。
徠卡金相顯微鏡主要用于材料分析,金相組織觀察,與同濟大學(xué)合作的顯微鏡型號是DM6M為正置式三目鏡,配了徠卡品牌DFC450型的500萬物理像素攝像頭…
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