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光學(xué)顯微鏡

首頁 > 產(chǎn)品中心 > 光學(xué)顯微鏡 > 徠卡STELLARIS 5 Cryo 共聚焦光學(xué)顯微鏡

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品編號(hào): 所屬品牌: Leica
產(chǎn)品型號(hào): STELLARIS 5 Cryo 額定功率:按實(shí)際方案提供
所屬類別: 光學(xué)顯微鏡所屬用途: 金相組織觀察
應(yīng)用領(lǐng)域:
產(chǎn)品特性:

徠卡STELLARIS 5 Cryo 共聚焦光學(xué)顯微鏡

STELLARIS 5 Cryo是一個(gè)共聚焦光學(xué)顯微鏡系統(tǒng),可以幫助您針對(duì)感興趣的區(qū)域進(jìn)行定位以輔助冷凍電子斷層掃描(CryoET)。STELLARIS 5 Cryo為您提供可靠的目標(biāo)定位準(zhǔn)確度, 同時(shí)還能提供您可以信賴的性能,并提高實(shí)驗(yàn)效率。

我們的冷凍電子斷層掃描工作流程解決方案

我們提供專用的Coral Cryo三維冷凍電子斷層掃描工作流程解決方案,可確保樣本活性、進(jìn)行質(zhì)量檢查,重要的是確保三維目標(biāo)定位機(jī)制準(zhǔn)確可靠。

STELLARIS 5 Cryo包含冷凍臺(tái)和傳送梭,旨在配合先進(jìn)的CryoET目標(biāo)定位軟件(LAS X Coral Cryo),以及適用于冷凍聚焦離子束(FIB)或真空冷凍傳送(VCT)載物臺(tái)的各種無縫集成和傳送選項(xiàng)。

通過無縫銜接的樣本制備工作流程提高工作效率。

可靠的靶向準(zhǔn)確度

對(duì)于相關(guān)的工作流程,至關(guān)重要的是檢索冷凍光學(xué)顯微鏡下識(shí)別的確切靶點(diǎn)坐標(biāo),
因?yàn)闊晒庑盘?hào)在隨后的電子顯微鏡步驟中不可見。

因此,具有獲取開放格式坐標(biāo)的STELLARIS 5 Cryo顯微鏡中進(jìn)行目標(biāo)定位,以提高系統(tǒng)的互操作性。

易于使用的LAS X Coral Cryo軟件模塊可滿足這些需求,它具有基于插值的創(chuàng)新性三維目標(biāo)定位功能,
能夠在納米尺度上準(zhǔn)確定位開放格式的坐標(biāo)標(biāo)記。不同的標(biāo)記類型提供不同的功能,
還可用于標(biāo)志、薄片和熒光珠標(biāo)記。

使用LIGHTNING可從樣本中獲得豐富的信息

 Power HyD探測器系列、優(yōu)化的光束路徑與 白光激光器 (WLL)相結(jié)合,使您能夠獲得更準(zhǔn)確、可靠的數(shù)據(jù)。

運(yùn)用獨(dú)特的LIGHTNING檢測理念,盡可能地從您的玻璃化冷凍樣本中提取信息,獲得對(duì)科學(xué)問題的深入解答。 這是一個(gè)自適應(yīng)的信息提取過程,可以呈現(xiàn)圖像信息中原本不可見的精細(xì)結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)。

因此,您可以在電鏡顯微成像工作流程的后續(xù)步驟中更準(zhǔn)確地定位感興趣的結(jié)構(gòu)。

您可以信賴的性能

在冷凍電子顯微鏡中,須在整個(gè)工作流程中監(jiān)測冰層厚度,而且越早檢查和評(píng)估越好。如果冰層太厚,會(huì)在打磨階段造成問題,而如果冰層太薄,又可能會(huì)影響樣本的穩(wěn)定性。

STELLARIS 5 Cryo提供了兩種冰層檢查模式:快速攝像概覽和共聚焦反射模式,以三維方式確定冰層厚度。 

開發(fā)Cryo CLEM物鏡HC PL APO 50x/0.90是為了滿足冷凍光學(xué)顯微成像的特定需要,為您提供超分辨率的優(yōu)勢,同時(shí)又不需要浸液。

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