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高質(zhì)量觀察 細(xì)微結(jié)構(gòu)的進(jìn)一步觀察
? 全新電子光學(xué)系統(tǒng)的高質(zhì)量成像
? 新差動(dòng)排氣系統(tǒng)擴(kuò)大了低真空壓力范圍
高通量 的快速處理能力支持新一代操作環(huán)境
? 操作直觀的觸控屏界面
? 高通量樣品室
? EDS 集成化，一觸式分析。
高擴(kuò)展性 多接口擴(kuò)展了分析范圍
? 多用途樣品室
? 豐富的選配件
EDS、雙 EDS 探測(cè)器、WDS、EBSD 等多個(gè)預(yù)備接口。
JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對(duì) W-SEM 機(jī)型的期待，全新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。
通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉?？梢杂酶叩姆直媛视^察微觀結(jié)構(gòu)。
通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像，能觀察到每個(gè)碳化鎢顆粒的通道襯度。
幀累積法能抑 制荷電效應(yīng)，對(duì)非常容易充電的樣品可以輕松地進(jìn)行觀察。
新的掃描方式能減輕樣品的帶電，不易受到樣品漂移的影響，即使是容易充電的樣品，高倍率下的圖像質(zhì)量也得到了顯著的提高。
新的差動(dòng)抽氣系統(tǒng)顯著提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量，此外，低真空模式的至大
壓力可高達(dá) 650Pa，進(jìn)一步擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。
含有大量水分的軟樣品可能會(huì)由于樣品室內(nèi)的壓力而無(wú)法保持原有的結(jié)構(gòu)，這樣的
樣品不進(jìn)行特殊處理就無(wú)法觀察。但低真空壓力范圍擴(kuò)展到 650 Pa 就可以進(jìn)行觀
察，即使沒有特殊處理對(duì)樣品的損傷也很小。
即使是低真空模式下，通過低真空二次電子像也能清晰地觀察有 機(jī)材料的表面細(xì)節(jié)。
JEOL 是集開發(fā)、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中，輕觸屏幕即可進(jìn)行分析。
在 SEM 的操作界面上，只需輕觸圖標(biāo)就可以執(zhí)行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體 化集成，提高了通量和易用性。
在 SEM 的 GUI 上，輕觸屏幕即可執(zhí)行基本的分析操作。
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