清潔度分析系統(tǒng)BH-CIA880
顯微鏡
BAHENS光學顯微鏡（ISO16232規(guī)定），放大50倍-500倍，既可做清潔度檢測。
檢測內(nèi)容
? 雜質(zhì)平面尺寸
? 雜質(zhì)高度
? 雜質(zhì)數(shù)量
? 雜質(zhì)形狀分類：顆粒或纖維
? 雜質(zhì)性質(zhì)分類：反光（金屬），亞光（非金屬，金屬氧化物）
7*12小時服務熱線（業(yè)務咨詢）：400-099-6011
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BAHENS光學顯微鏡（ISO16232規(guī)定），放大50倍-500倍，既可做清潔度檢測。
? 雜質(zhì)平面尺寸
? 雜質(zhì)高度
? 雜質(zhì)數(shù)量
? 雜質(zhì)形狀分類：顆粒或纖維
? 雜質(zhì)性質(zhì)分類：反光（金屬），亞光（非金屬，金屬氧化物）
? 支持多種聚焦模式：補償聚焦、跟 蹤聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。
? 采用至 新的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像；
? 新精 確模式可以輕松辨認原本會產(chǎn)生誤判的亞光色金屬顆粒（綠色包圍部分），用偏振光照射，記錄在兩個情況下進行比較，然后用于準確區(qū)分金屬和非金屬顆粒。
? 目鏡：大視場雙目觀察，觀察視域大而舒 適。
放大倍數(shù)10倍，視場指數(shù)22毫米，三目鏡筒55-75mm可調(diào)瞳距。
? 物鏡：高性能高反差平場物鏡，鍍膜防霉。
5X，10X，20X,50X
? 系統(tǒng)自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統(tǒng)計顆粒參數(shù)。同時支持修改顆粒。
? 提供多種統(tǒng)計分析工具：MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計結果、直方圖等；
? 支持模板化報告生成模式，包含統(tǒng)計數(shù)據(jù)、評級、濾片全貌圖、至大顆粒照片等信息；
微信搜索 :Bahens02
電話：021-33587030 021-33587020 021-34631757
