徠卡清潔度檢測系統(tǒng)已有10 年以上的歷史,迄今為止已可以提供比較完善的清潔度整體解決方案,通過直觀的軟件,較精 準的、可重復的測量過濾膜上的顆粒,為客戶帶來更好的工作效率。
為您提供高專 業(yè)度的解決方案
01
系統(tǒng)的光路目前已經是為清潔度專門設計,特 有的自動偏光能在掃描過程中直接快速準確識別反光和非反光顆粒。
自動偏光法是根據(jù)反光與非反光顆粒的折射率不同,在偏振片下呈現(xiàn)出的明亮和黑暗,結合軟件的灰度判定來直觀準確地判斷反光于非反光顆粒的。這種判定方法不受顆粒形狀的影響,只要是亞光顆粒,在偏振下就是全黑色的,而其余的顆粒就是反光顆粒。
其他公司則使用自然光法,對于球狀顆粒的誤判性很高。其原因是,球狀亞光顆粒在自然光下會呈現(xiàn)局部黑暗,局部明亮的雙重性,對于僅僅依靠灰度來識別的軟件而言,難以判定其究竟是反光還是亞光顆粒。
Modified diaphragm module of 11888738 (Stand top DM6000M, Cleanliness Expert)
and 11888737 (Stand top DM4000M, Cleanliness Expert)
02
為濾紙專門設計的夾具,預防濾紙變形影響檢測結果。
03
兼容目前汽車行業(yè)要求最 高的鑄件孔隙率檢測的使用要求:
整套系統(tǒng)在做清潔度分析的基礎上可極 大程度上兼容目前汽車行業(yè)要求極 高的鑄件孔隙率檢測的使用要求。
眾所周知,VW 的孔隙率檢測標準是按照德國鑄造協(xié)會VGD-P201 標準延伸和制定的針對鑄造件孔隙率檢測的規(guī)范,這一規(guī)范對圖形處理和取樣要求都提出了非常高的要求,見下圖。即針對樣品斷面的特點,取最 大面積的平均縮孔比率。
對此徠卡開發(fā)的LAS X軟件包在傳統(tǒng)矩形取樣方式的基礎上增加了符合VW 規(guī)范的多形狀取樣區(qū)域設定和全自動圖像拼接功能,獲得了極 高的推崇,成功的提供孔隙率檢測精 準度。
注: 針對 VW 對porosity 檢測定義的倍率要求(12.5x-25x),徠卡特殊開發(fā)的中間倍率物鏡1.6x(即16x 倍率)無論從視野及倍率的角度都是這一應用的極 佳選擇。
介紹了使用徠卡EM TIC 3X三離子束研磨儀對手機觸摸屏玻璃進行解剖的實驗過程和結果。
Leica DM2700 M LED照明正置材料顯微鏡。Leica DM2700 M為適用于明場、暗場、微分干涉、偏光以及熒光用途的多功能立式顯微系統(tǒng)。
CCM200C普通型清潔度檢測系統(tǒng)對清洗過濾后得到的濾有殘渣的濾紙,通過顯微鏡法觀察和測定殘渣顆粒的大小,與CCM-100C型的清潔度檢測系統(tǒng)的差別在CCM-200C型是智能型,可以通過電腦任何控制平臺。
徠卡金相顯微鏡主要用于材料分析,金相組織觀察,與同濟大學合作的顯微鏡型號是DM6M為正置式三目鏡,配了徠卡品牌DFC450型的500萬物理像素攝像頭…
BAHENS儀器微信公眾號