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摘要：

本報告說明了將光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）化學(xué)分析相結(jié)合的二合一材料分析解決方案為何能夠更加有效經(jīng)濟地進行清潔度技術(shù)分析。清潔度分析有助于在眾多行業(yè)確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，例如汽車和運輸。因為能同時獲得顆粒圖像和成分?jǐn)?shù)據(jù)，二合一解決方案可大幅減少清潔度分析工作流程的成本和時間。同時取得目視和化學(xué)數(shù)據(jù)更易于確定污染源。

 

整個分析工作流程比掃描電子顯微鏡(SEM)等其他方式更加快速，因為：

• 無需樣本制備；

•  無需將樣本轉(zhuǎn)移到其他設(shè)備；

• 過濾樣本始終在大氣條件下在空氣中進行分析。

二合一解決方案可提供待分析顆粒的目視和化學(xué)數(shù)據(jù)，能夠在更短時間內(nèi)為生產(chǎn)、質(zhì)量控制和故障分析的進一步行動作出合理決策。

簡介

本報告說明了將光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）化學(xué)分析相結(jié)合的二合一材料分析解決方案為何能夠更加有效經(jīng)濟地進行清潔度技術(shù)分析。清潔度分析有助于在眾多行業(yè)確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，例如汽車和運輸。因為能同時獲得顆粒圖像和成分?jǐn)?shù)據(jù)，二合一解決方案可大幅減少清潔度分析工作流程的成本和時間。同時取得目視和化學(xué)數(shù)據(jù)更易于確定污染源。

 

整個分析工作流程比掃描電子顯微鏡(SEM)等其他方式更加快速，因為：

• 無需樣本制備；

•  無需將樣本轉(zhuǎn)移到其他設(shè)備；

• 過濾樣本始終在大氣條件下在空氣中進行分析。

二合一解決方案可提供待分析顆粒的目視和化學(xué)數(shù)據(jù)，能夠在更短時間內(nèi)為生產(chǎn)、質(zhì)量控制和故障分析的進一步行動作出合理決策。

圖1：徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS解決方案可同時采用光學(xué)顯微鏡和LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）進行清潔度分析。使用這種二合一解決方案的化學(xué)分析工作流程能夠以更少的時間和精力找出污染源。

LIBS是什么？

LIBS是激光誘導(dǎo)擊穿光譜的縮寫。LIBS的基本原理和操作已在之前的報告中說明。

 

更易于找到并消除污染源

 

對于清潔度技術(shù)，目標(biāo)是找到并消除污染源。因為簡化了清潔度分析工作流程，二合一解決方案能夠以更少的時間和精力確定污染源。

 

與掃描電子顯微鏡（SEM）和能量色散譜（EDS）分析不同，該解決方案：

• 無需樣本制備；

• 無需將樣本從一個設(shè)備轉(zhuǎn)移到另一個；

• 無需將核心轉(zhuǎn)移到過濾器并對系統(tǒng)進行調(diào)整；

• 不用浪費時間等待真空環(huán)境（分析始終在大氣條件下在空氣中進行）

下方的圖2對比了使用二合一解決方案和SEM/EDS進行清潔度分析工作流程的區(qū)別。

 

清潔度分析工作流程二合一解決方案與光學(xué)+電子顯微鏡

圖2：使用DM6 M LIBS系統(tǒng)這樣將光學(xué)顯微鏡（OM）和LIBS相結(jié)合的二合一解決方案能夠更快找出污染源。

二合一解決方案：顆粒成像和成分分析

下方的圖3顯示了使用徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS解決方案對過濾器上的顆粒進行目視和化學(xué)分析的示例。

圖3：使用DM6 M LIBS二合一解決方案進行清潔度分析：A)對過濾器上的一個顆粒進行檢測、計算和測量；B)如果顆粒為金屬，使用適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)對比法可以看到顆粒的反射；C)使用LIBS，對過濾器上檢測到的顆粒進行激光打靶（紅十字準(zhǔn)星）；D)LIBS的元素譜清楚顯示顆粒的成分是鋁（Al）。

有效的整體清潔度工作流程

在整體清潔度工作流程中，通常要用到來自不同供應(yīng)商的多種儀器設(shè)備進行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析的整個工作流程使用“單一來源”的清潔度解決方案會更加方便。徠卡顯微系統(tǒng)和Pall就攜手為汽車和運輸行業(yè)提供了這樣一個獨特的整體清潔度解決方案。使用Pall的清洗柜和徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS二合一解決方案的整體清潔度工作流程請見下方的圖4。

 

整體解決方案的優(yōu)勢是更易于實現(xiàn)清潔度分析的目標(biāo)：

• 確定顆粒導(dǎo)致?lián)p害的可能性；

• 對于可能嚴(yán)重威脅產(chǎn)品性能和使用壽命的顆粒，找出并消除污染源。

圖4：用于汽車行業(yè)、遵守VDA19的有效整體清潔度工作流程：從提取并保存過濾器上的顆粒（Pall的清洗柜）到目視和化學(xué)分析（徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS二合一解決方案）。目標(biāo)是更加快速地找出危險顆粒的來源并加以清除。

結(jié)語

本文介紹了將光學(xué)顯微鏡和激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）化學(xué)分析相結(jié)合、可有效進行清潔度分析的二合一材料分析解決方案的優(yōu)勢。

 

清潔度分析對于多個行業(yè)和領(lǐng)域的多種產(chǎn)品都非常重要，比如運輸、電子和制藥。一般說來用于清潔度分析的時間和預(yù)算都是有限的，但取得可靠的結(jié)果和保證產(chǎn)品質(zhì)量始終是關(guān)鍵。

 

徠卡顯微系統(tǒng)的DM6 M LIBS材料分析解決方案是二合一解決方案之一，它僅用一臺設(shè)備就提供了快速準(zhǔn)確的目視和化學(xué)分析，無需樣本制備及設(shè)備間的轉(zhuǎn)移，樣本在整個分析期間都處在環(huán)境條件之下。與SEM/EDS方法相比，二合一解決方案能夠更加方便地找出危險顆粒的污染源。這些優(yōu)勢讓用戶可以快速準(zhǔn)確并更加經(jīng)濟地進行清潔度分析。

 

相關(guān)產(chǎn)品

徠卡DM6 M LIBS

 

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