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JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽卓著的JEM-2100 的電子光學系統(tǒng)，還增加了最新的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優(yōu)越，操作方便，簡明易懂，在材料、醫(yī)學、生物學等多個研究領域提供優(yōu)異的解決方案。

場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200標配冷場發(fā)射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統(tǒng)。新設計的Ω能量過濾器與無孔位相板的組合，進一步提高了生物樣品的襯度。

CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗

JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它”，從而更有效、更輕松地完成 SEM 觀察。

日本電子場發(fā)射掃描電鏡JSM-7200F標配TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。能兼顧高分辨率觀察和高通量分析，具有充實的自動功能和易用性，是新一代的多功能場發(fā)射掃描電鏡。

JSM-IT100 提供的直觀操作，同樣也適用于EDS分析，利用 EDS 導航器能順利地進行定量分析、定性分析和元素面分布，只需很少的步驟就可執(zhí)行豐富的分析功能，新手也能輕松駕馭。

JSM-IT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

臺式掃描電子顯微鏡日本電子JCM-6000Plus。按下裝置的分析按鈕，就能開啟 EDS 視窗。EDS 能支持定性 / 定量分析、點分析和元素面分析（確認元素分布）。